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晶振百科技術(shù)社區(qū) 實驗測試

晶振的正負(fù)極怎么判斷
閱讀次數(shù)：2425次
2024-03-30
晶振的正負(fù)極標(biāo)記是電源連接方向，而不是輸入和輸出端口。正極引腳通常連接到電源，負(fù)極引腳則連接到地。我們可以通過以下方式來判斷晶振的正負(fù)極。
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無線遙控器常用的晶振頻率選擇
閱讀次數(shù)：2492次
2024-03-23
無線遙控器可以分為四種類型，其中每種類型可能采用不同的頻率晶振。今天KOAN凱擎小妹聊一下常見的幾種無線遙控器及其可能使用的晶振頻率。
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無源晶振：驅(qū)動功率、負(fù)性阻抗
閱讀次數(shù)：386次
2024-03-16
驅(qū)動功率和負(fù)性阻抗是石英晶體諧振器設(shè)計中的關(guān)鍵參數(shù)，直接影響振蕩線路的性能和穩(wěn)定性。
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晶振可靠性測試：冷熱沖擊試驗
閱讀次數(shù)：1001次
2024-03-09
可靠性測試對高品質(zhì)晶振至關(guān)重要，用于評估晶振在不同工作環(huán)境和極端條件下的性能，包括溫度變化、濕度、振動等?！翱煽啃浴睖y試中的”冷熱沖擊”試驗.
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溫補晶振常見的波形：削峰正弦波
閱讀次數(shù)：410次
2024-03-01
TCXO頻率精度和溫度特性遠(yuǎn)高于普通振蕩器，低于恒溫晶振。但不需預(yù)熱且功耗低，從而在野外作業(yè)，移動設(shè)備，通訊導(dǎo)航設(shè)備中廣泛應(yīng)用。削峰正弦波是常見的輸出波形，今天凱擎小妹聊一下溫補晶振(KT)中削峰正弦波(CS...
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晶振電路中電容和電阻的選擇與作用
閱讀次數(shù)：757次
2024-02-20
晶振電路中的電容和電阻是調(diào)整和維持晶振振蕩穩(wěn)定性的關(guān)鍵元件。KOAN凱擎小妹帶大家了解一下晶振電路中電容電阻的一些基本原理和作用。
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如何驅(qū)動晶振？
閱讀次數(shù)：572次
2024-01-31
電子領(lǐng)域中，”驅(qū)動"通常指的是通過提供激勵或控制信號，使某個設(shè)備、組件或系統(tǒng)執(zhí)行特定的動作或功能的過程。對于晶振而言，"驅(qū)動晶振"指的是為晶振提供適當(dāng)?shù)募钚盘柣螂娫?，使其在?guī)定的頻率和振幅范圍內(nèi)工作...
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正弦波和方波晶振能否互相替代？
閱讀次數(shù)：360次
2024-01-23
正弦波晶振和方波晶振是兩種不同類型的晶振，它們在輸出波形和用途上有顯著的區(qū)別。因此，它們通常不是直接可互換的。
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有源晶振選型需要哪些參數(shù)
閱讀次數(shù)：344次
2024-01-15
有源晶振用于產(chǎn)生穩(wěn)定的時鐘信號。其內(nèi)部有獨立的起振芯片，不受外部電路影響。選型時需要考慮一些關(guān)鍵參數(shù)，以確保器件在特定應(yīng)用中能夠滿足性能需求。
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濕度對晶振性能的影響
閱讀次數(shù)：499次
2024-01-15
濕度可以對晶振的穩(wěn)定性和性能產(chǎn)生一定程度的影響。對于需要高精度和穩(wěn)定性的應(yīng)用，如通信、精密測量或控制系統(tǒng)，濕度對晶振的影響可能需要特別注意。
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相位噪聲：重要性與廣泛應(yīng)用
閱讀次數(shù)：759次
2023-12-28
頻率穩(wěn)定度分短穩(wěn)和長穩(wěn)。短穩(wěn)是指由相噪，電源和負(fù)載變化引起的頻率波動；長穩(wěn)是指因老化等引起的頻率漂移。相位噪聲是晶體振蕩器短期穩(wěn)定度的重要指標(biāo)。今天凱擎小妹就來講一下相位噪聲的概念及其應(yīng)用。
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石英晶振和硅晶振：原理和參數(shù)對比
閱讀次數(shù)：751次
2023-12-18
石英晶體是一種壓電材料，具有壓電效應(yīng)。硅晶振不具備類似于石英的壓電效應(yīng)，而是利用硅材料的機械特性和微機電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù)。
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應(yīng)用領(lǐng)域中常用的晶振頻率 -- 儀器儀表
閱讀次數(shù)：1098次
2023-12-12
儀器儀表可能使用各種不同頻率的晶振，取決于其特定的應(yīng)用需求和測量范圍。凱擎小妹跟大家聊一下儀器儀表中常用的晶振頻率吧~
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差分晶振輸出LVPECL/LVDS/HCSL的區(qū)別
閱讀次數(shù)：1832次
2023-12-05
在數(shù)字通信和高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)阮I(lǐng)域，差分信號常用于減少干擾和提高抗干擾能力。差分輸出有兩個互補的相位信號。LVPECL，LVDS、HCSL是晶振輸出信號的不同類型。
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晶體和晶振的區(qū)別
閱讀次數(shù)：1746次
2023-11-30
晶體是晶振的基礎(chǔ)，晶振則是利用晶體的特性來產(chǎn)生穩(wěn)定的電信號。晶振被廣泛用于計算機、通信設(shè)備、鐘表等需要高精度時鐘信號的設(shè)備中。
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晶振可靠性測試：耐焊接熱試驗
閱讀次數(shù)：1068次
2023-11-16
可焊性和耐焊接熱試驗?zāi)康模捍_定晶振能否經(jīng)受焊接 (烙焊、浸焊、波峰焊或回流焊) 端頭過程中所產(chǎn)生的熱效應(yīng)考驗。耐焊接熱試驗可以參照GJB 360B.208/ 210方法試驗要求。試驗設(shè)備有熔錫爐和放大鏡。
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晶振可靠性測試：跌落試驗
閱讀次數(shù)：1374次
2023-11-06
跌落試驗的目的是確定在搬運裝卸及在現(xiàn)場工作條件下所引起的重復(fù)隨機撞擊對晶振的影響。試驗中會暴露出不需要用沖擊和振動試驗就能檢查出來的各種類型的結(jié)構(gòu)與機械缺陷。
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晶振可靠性測試：振動試驗
閱讀次數(shù)：1048次
2023-10-26
晶振在設(shè)計和使用過程中，在經(jīng)受自身，外部環(huán)境，以及機械環(huán)境的影響下，仍然可以正常的工作。今天凱擎小妹分享的“振動試驗”就屬于機械環(huán)境的一部分。
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晶振可靠性測試：高低溫儲存試驗
閱讀次數(shù)：1115次
2023-09-26
高溫試驗是晶振在高溫條件下工作一段時間后，評定高溫對晶振的電氣和機械性能的影響；或者長時間高溫存儲(不帶電)后，評定晶振的質(zhì)量穩(wěn)定性。低溫試驗是長時間低溫存儲(不帶電)后，評定晶振的質(zhì)量穩(wěn)定性，以及檢...
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晶振可靠性測試：溫度循環(huán)試驗
閱讀次數(shù)：1444次
2023-09-08
溫度循環(huán)試驗 (高低溫循環(huán)試驗/Temperature Cycling)是將晶振暴露在高低溫交替的試驗環(huán)境下，測試元器件抗高低溫交替沖擊的能力。
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