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跌落試驗(yàn)的目的是確定在搬運(yùn)裝卸及在現(xiàn)場(chǎng)工作條件下所引起的重復(fù)隨機(jī)撞擊對(duì)晶振的影響。試驗(yàn)中會(huì)暴露出不需要用沖擊和振動(dòng)試驗(yàn)就能檢查出來的各種類型的結(jié)構(gòu)與機(jī)械缺陷?？蓞⒖紭?biāo)準(zhǔn)：GJB 360B.203。本試驗(yàn)可以用“跌落試驗(yàn)臺(tái)”。

試驗(yàn)說明：

·      3225 (含)以下尺寸產(chǎn)品加重跌落：晶振在150g/150CM高度自由落體到水泥地板3次 * (x,y,z,-x,-y,-z),共十八次 (6面12邊方向各跌落一次)

·      3225以上尺寸產(chǎn)品：KOAN晶振在75cm高度自由落體到水泥地板3次

無源晶振指的是諧振器，內(nèi)部沒有獨(dú)立起振電路，需要外部電路配合，并且精準(zhǔn)匹配外部電容才可以輸出信號(hào)；KOAN有源晶振指的是所有振蕩器系列，特點(diǎn)是穩(wěn)定度高，不受外部電路影響，內(nèi)部有獨(dú)立起振芯片。

跌落試驗(yàn)對(duì)晶振的影響：

• 晶體諧振器：頻率升高1ppm左右(5max), 諧振阻抗增大4Ω左右(5max or +10%)

• 晶體振蕩器：頻率降低2ppm左右(-5max)