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高溫試驗(yàn)是晶振在高溫條件下工作一段時(shí)間后，評(píng)定高溫對(duì)晶振的電氣和機(jī)械性能的影響；或者長(zhǎng)時(shí)間高溫存儲(chǔ)(不帶電)后，評(píng)定晶振的質(zhì)量穩(wěn)定性，可參照標(biāo)準(zhǔn)GJB 360B.108。低溫試驗(yàn)是長(zhǎng)時(shí)間低溫存儲(chǔ)(不帶電)后，評(píng)定晶振的質(zhì)量穩(wěn)定性，以及檢測(cè)封裝中足以對(duì)晶振產(chǎn)生不良影響的殘存濕氣，即通常的露點(diǎn)測(cè)試，可參照標(biāo)準(zhǔn)GJB 548B.1013.1。

高低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)(High/Low Temperature Storage)暴露的故障來源于元器件表面和內(nèi)部的物理和化學(xué)變化，例如：密封問題，材料熱脹冷縮問題，電性能產(chǎn)生的變化等。

KOAN晶振無源和有源多種型號(hào)均可滿足您的需求。我們的專業(yè)銷售團(tuán)隊(duì)可以根據(jù)不同的應(yīng)用領(lǐng)域，為您精準(zhǔn)化匹配晶振參數(shù)。另外，總部配備了E5052B信號(hào)分析儀器、S&A280B、S&A250B測(cè)試儀器，以及高低溫箱，抗沖擊試驗(yàn)設(shè)備等。我們的質(zhì)量方針是精益求精、追求卓越、制造非凡、顧客滿意。產(chǎn)品質(zhì)量和技術(shù)追求行業(yè)最高水準(zhǔn)。公司追求精細(xì)化質(zhì)量管理，以滿足客戶對(duì)高端產(chǎn)品需求。