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電噪聲是引起晶振相位隨機(jī)抖動(dòng)的根本原因。其直接影響輸出信號(hào)的穩(wěn)定性。晶振的短期頻率穩(wěn)定度主要受隨機(jī)噪聲影響，并與輸出信號(hào)的信噪比密切相關(guān)。從頻率角度看，短期頻率穩(wěn)定度通常以相位噪聲(Phase Noise)來(lái)表示；從時(shí)域角度看，則以抖動(dòng)(Jitter)作為衡量指標(biāo)。兩者本質(zhì)上描述的是同一相位隨機(jī)變化在不同分析域下的表現(xiàn)。由于時(shí)間與頻率互為倒數(shù)關(guān)系(Time=1/Frequency)，相位噪聲與抖動(dòng)之間可以互相換算，共同決定晶振在高速域高精度系統(tǒng)中的時(shí)序性能。

產(chǎn)品圖片

尺寸

型號(hào)

輸出波形

工作電壓

頻率范圍Hz

特種代碼

參數(shù)選擇

規(guī)格書(shū)

2. 3.2x2.5
3. KJ328D
4. LVDS
5. 1.8V~3.3V
6. 150.0M~2.1G
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動(dòng) 編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 5.0x3.2
3. KS508T
4. CMOS
5. 1.8V~3.3V
6. 150.0M~250.0M
7. J Q S H
  相噪抖動(dòng) 編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 5.0x3.2
3. KD508C
4. HCSL
5. 1.8V~3.3V
6. 150.0M~700.0M
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動(dòng) 編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 5.0x3.2
3. KJ508D
4. LVDS
5. 1.8V~3.3V
6. 150.0M~2.1G
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動(dòng) 編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 7.0x5.0
3. KS708T
4. CMOS
5. 1.8V~3.3V
6. 150.0M~250.0M
7. J Q S H
  相噪抖動(dòng) 編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 7.0x5.0
3. KD708C
4. HCSL
5. 1.8V~3.3V
6. 150.0M~700.0M
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動(dòng) 編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 7.0x5.0
3. KJ708D
4. LVDS
5. 1.8V~3.3V
6. 150.0M~2.1G
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動(dòng) 編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 2.5x2.0
3. KD256D
4. LVDS
5. 1.8V~3.3V
6. 13.0M~220.0M
7. D J
  差分輸出相噪抖動(dòng)
8. 立即選擇
2. 3.2x2.5
3. KJ326D
4. LVDS
5. 2.5V~3.3V
6. 100.0M~1.5G
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動(dòng) 編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 5.0x3.2
3. KJ506D
4. LVDS
5. 2.5V~3.3V
6. 100.0M~1.5G
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動(dòng) 編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇