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電噪聲是引起晶振相位隨機(jī)抖動(dòng)的根本原因。其直接影響輸出信號(hào)的穩(wěn)定性。晶振的短期頻率穩(wěn)定度主要受隨機(jī)噪聲影響，并與輸出信號(hào)的信噪比密切相關(guān)。從頻率角度看，短期頻率穩(wěn)定度通常以相位噪聲(Phase Noise)來表示；從時(shí)域角度看，則以抖動(dòng)(Jitter)作為衡量指標(biāo)。兩者本質(zhì)上描述的是同一相位隨機(jī)變化在不同分析域下的表現(xiàn)。由于時(shí)間與頻率互為倒數(shù)關(guān)系(Time=1/Frequency)，相位噪聲與抖動(dòng)之間可以互相換算，共同決定晶振在高速域高精度系統(tǒng)中的時(shí)序性能。