電噪聲是引起晶振相位隨機抖動的根本原因。其直接影響輸出信號的穩(wěn)定性。晶振的短期頻率穩(wěn)定度主要受隨機噪聲影響,并與輸出信號的信噪比密切相關。從頻率角度看,短期頻率穩(wěn)定度通常以相位噪聲(Phase Noise)來表示;從時域角度看,則以抖動(Jitter)作為衡量指標。兩者本質上描述的是同一相位隨機變化在不同分析域下的表現(xiàn)。由于時間與頻率互為倒數(shù)關系(Time=1/Frequency),相位噪聲與抖動之間可以互相換算,共同決定晶振在高速域高精度系統(tǒng)中的時序性能。
產(chǎn)品圖片
尺寸
型號
輸出波形
工作電壓
頻率范圍Hz
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規(guī)格書