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電噪聲是引起晶振相位隨機抖動的根本原因。其直接影響輸出信號的穩(wěn)定性。晶振的短期頻率穩(wěn)定度主要受隨機噪聲影響，并與輸出信號的信噪比密切相關。從頻率角度看，短期頻率穩(wěn)定度通常以相位噪聲(Phase Noise)來表示；從時域角度看，則以抖動(Jitter)作為衡量指標。兩者本質上描述的是同一相位隨機變化在不同分析域下的表現(xiàn)。由于時間與頻率互為倒數(shù)關系(Time=1/Frequency)，相位噪聲與抖動之間可以互相換算，共同決定晶振在高速域高精度系統(tǒng)中的時序性能。

產(chǎn)品圖片

尺寸

型號

輸出波形

工作電壓

頻率范圍Hz

特種代碼

參數(shù)選擇

規(guī)格書

2. 7.0x5.0
3. KJ706D
4. LVDS
5. 2.5V~3.3V
6. 100.0M~1.5G
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 7.0x5.0
3. KJ70
4. CMOS
5. 1.8V~3.3V
6. 20.0M~50.0M
7. J
  相噪抖動
8. 立即選擇
2. 5.0x3.2
3. KJ50
4. CMOS
5. 1.8V~3.3V
6. 20.0M~50.0M
7. J
  相噪抖動
8. 立即選擇
2. 2.5x2.0
3. KJ25
4. CMOS
5. 1.8V~3.3V
6. 20.0M~50.0M
7. J
  相噪抖動
8. 立即選擇
2. 3.2x2.5
3. KJ32
4. CMOS
5. 1.8V~3.3V
6. 20.0M~50.0M
7. J
  相噪抖動
8. 立即選擇
2. 5.0x3.2
3. KV508T
4. CMOS
5. 1.8V~3.3V
6. 10.0M~245.0M
7. J Q S H
  相噪抖動編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 5.0x3.2
3. KV508D
4. LVDS
5. 2.5V~3.3V
6. 15.0M~2.1G
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 5.0x3.2
3. KV508C
4. HCSL
5. 1.8V~3.3V
6. 15.0M~700.0M
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 7.0x5.0
3. KV708T
4. CMOS
5. 1.8V~3.3V
6. 10.0M~245.0M
7. J Q S H
  相噪抖動編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇
2. 7.0x5.0
3. KV708D
4. LVDS
5. 2.5V~3.3V
6. 15.0M~2.1G
7. D J Q S H
  差分輸出相噪抖動編程晶振切換頻率超高頻
8. 立即選擇