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絕緣電阻可靠性測(cè)試

- 目的：晶振在熱帶和亞熱帶高溫高濕條件下的耐潮濕能力，以及晶振的絕緣性能在經(jīng)受高溫、潮濕等環(huán)境應(yīng)力時(shí)，其絕緣電阻是否符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

- 試驗(yàn)方式: 將晶振放置在溫濕度85℃/85%RH，試驗(yàn)時(shí)間1000±12小時(shí)，實(shí)驗(yàn)結(jié)束后24±2小時(shí)內(nèi)進(jìn)行電性能測(cè)試。(參照GJB 360B 106/302）

- 測(cè)試對(duì)晶振的影響：晶體諧振器頻率降低4ppm左右(5max)，諧振阻抗增大3Ω左右(5max)/±10%；晶體振蕩器頻率降低3.5ppm左右(5max)。