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絕緣電阻(Insulation Resistance，簡稱IR)是指物體在特定電壓下能夠抵抗電流通過的能力。晶振的絕緣電阻是指各個引出端之間或引出端與晶振外殼之間的電阻。絕緣電阻越高，晶振的絕緣性能越好，其抵抗漏電流的能力也就越強，從而提高了工作可靠性和穩(wěn)定性。

不同品牌和型號的晶振其絕緣電阻標準會有所不同。以KOAN諧振器為例，其絕緣電阻最低要求為500MΩ。

絕緣電阻可靠性測試

目的：晶振在熱帶和亞熱帶高溫高濕條件下的耐潮濕能力，以及晶振的絕緣性能在經受高溫、潮濕等環(huán)境應力時，其絕緣電阻是否符合有關標準規(guī)定。

試驗方式: 將晶振放置在溫濕度85℃/85%RH，試驗時間1000±12小時，實驗結束后24±2小時內進行電性能測試。(參照GJB 360B 106/302）

測試對晶振的影響：晶體諧振器頻率降低4ppm左右(5max)，諧振阻抗增大3Ω左右(5max)/±10%；晶體振蕩器頻率降低3.5ppm左右(5max)。