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晶振的年老化率指在恒定環(huán)境（溫度、負載、電源）下，頻率每年發(fā)生的長期漂移量。常用單位是ppm/年。

老化率的原因主要有：

• 晶體材料中的應(yīng)力逐漸釋放；

• 封裝內(nèi)雜質(zhì)、氣體或水汽影響；

• 電極老化或遷移；

• 長期工作下的能量沖擊和驅(qū)動功率累積效應(yīng)。